仪器名称 | 扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope) | ||||
规格型号 | Nano Scope Ⅲa | ||||
生产厂家及产地 | 美国维易科（Veeco）精密仪器有限公司 | ||||
仪器编号 | / | ||||
原值（元） | 1,079,700.00 | 购置日期 | 2001-04 | 存放地点 | 朱共山楼346室 |
联系人 | ／ | 联系电话 | ／ | ／ | |
技术指标 | 最大扫描范围：125*125μm；最大垂直扫描范围5μm 最高水平分辨率：0.1nm;最高垂直分辨率：0.01nm 噪声水平：≤0.3Å | ||||
主要用途 | 可测量样品表面纳米及微米区域饿形貌、粗糙度，以及表面侧向力，主要用于地质、生物、化学、物理、材料等领域内样品表面形貌的观察，表面形貌的变化，以及实时表面反应的研究。 | ||||
特色功能 | (x,y,z)每个方向各有3个16Bits DAC,分别对基本波形、扫描范围及扫描偏移进行控制，提供了强大的控制精度，可持续稳定得到原子级分辨率。 | ||||
应用领域 | 主要用于化学，物理，生物，材料、地质等领域 | ||||
主要附件及功能 | ／ | ||||
样品要求或共享须知 | 样品需放置在非常平整的基片表面。 | ||||
仪器状况 | 在用 | 实验室认证 | ／ | 计量认证 | ／ |
共享级别 | 校内外 | 收费标准 | 校内： 200元／小时(自带针) 校外： 400元／小时(自带针) | ||
备注 | / | ||||